XF-P3镀层测厚仪

XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪，该产品采用进口定制Fast-SDD探测器，内置工控电脑，运行Smart FP算法，无需标样，可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器，电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。