中文
EN
联系我们
返回

XF-P3镀层测厚仪

XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

XF-P3产品手册点击下载 >>

测试范围

铝Al(No.13)~铀U(No.92)

检测精度

相对误差±1.5%(1微米厚度),±0.01%(成分)

XY平台

轻松多点测试超小样品,行程:30mm×30mm

多层分析

可支持至多十层检测

智能算法

同时分析镀层厚度和成分

多准直器

0.1*0.2mm/0.2*0.5mm/Φ1.0mm