目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面，是属于有损检测，测量手段繁琐，速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一先进的检测技术。
X射线荧光光谱法（XRF）的工作原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析出元素成份。
可以快速准确检测各种贵金属，应用广泛！
不会对珠宝首饰等被测样品造成任何损坏。
独有一键测试功能，自动化检测无需配备专业人员
3秒定性，7秒可得出直观结果。
一体化设计，占用空间小，便于携带与管理。
具备反辐射功能，整机寿命超过10年
可靠的检测数据。
加装防辐射装置，主动保护操作人员安全。
设备原理：X荧光能量色散
精确度: ±0.1%
整机分辨率：160±5eV
探测器： 进口Si-Pin探测器
适用温度： -11~46℃
内置电容触摸LED屏：否
尺寸： 650×350×450mm
标签打印机：支持
普通打印机：支持
热敏打印机：支持
天平/密度仪：不支持
电池支持：否
内置工控计算机：否（需外接电脑或笔记本）
电压： 100V～240V
额定功率：150W
重量：38公斤
无损检测
镀层工艺的高要求，让楔切法、光截法等传统的破坏性检测方法越来越不适用，市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法，而X射线荧光光谱法无非是很好的镀层无损检测方法。
强化品质管控
X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据，这是做好电镀品质管控的前提。
提升生产力
传统的检测技术，既耗时又耗人力，而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力，且检测速度快、精度高，这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助，从而带来更多的经济效益。
提升市场竞争力
X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力，也可以帮助电镀企业在行业里保持领先的竞争优势。
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