XF-A5SMC是西凡仪器推出的一款全新升级光路的X射线荧光光谱仪,可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品搭载美国AMPTEK定制Si-PIN探测器,配备双准直器,内置Intel 十核CPU工控电脑,支持Smart FP算法,创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路,其可获得更小的实际照射焦斑。能够精准分析贵金属成分、宝石成分、镀层厚度和离子浓度等,检测速度快,测试稳定性好、准确性高,性价比高。
XF-A5S MC产品手册点击下载 >>钾(No.19)~铀(No.92)
±0.03%(9999金)
更小的X射线激发焦点
Φ0.8毫米+Φ2.0毫米
贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体
支持多点连续测试