XF-P1M镀层测厚仪

XF-P1M镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置双核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。