XF-S6是西凡仪器推出的旗舰款多功能X射线荧光光谱仪,可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品搭载美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器、配备多准直器和多滤光片,内置Intel 十二核CPU工控电脑,采用Smart FP算法,创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路,其可获得更小的实际照射焦斑。能够精准分析贵金属成分、宝石成分、RoHS有害物质、镀层厚度、矿石成分和离子浓度等,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
XF-S6产品手册点击下载 >>铝(No.13)~铀(No.92)
±0.01%(9999金)
更小的X射线激发焦点
ϕ0.5mm/ ϕ1.5mm
配备进口Fast-SDD探测器
贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体/矿石粉末/RoHS