XF-S5是西凡仪器推出的一款全新升级光路的高端光谱仪,可广泛应用于贵金属产业链、电镀产业链、宝石产业链等行业。该产品采用美国AMPTEK Fast SDD探测器,内置Intel 十二核CPU工控电脑,支持Smart FP算法,创新性应用西凡第二代X射线与可见光共焦点垂直光路,其可获得更小的实际照射焦斑。能够精准分析贵金属成分、宝石成分、镀层厚度和离子浓度等,检测速度快,测试稳定性很好、准确性极高。
XF-S5产品手册点击下载 >>钾(No.19)~铀(No.92)
±0.01%(9999金)
更小的X射线激发焦点
Φ1.5毫米
贵金属合金/镀层/宝石/珍珠/液体
支持多点连续测试