2025东京工业展于7月9日-11日在日本幕张国际展览中心盛大举办。作为亚洲领先的制造业贸易展，本次展会由10个专业展组成，汇聚超过2000名参展商，重点展示制造业前沿技术，涵盖机械零部件、工业自动化、增材制造（3D打印）、工厂设施设备及测量仪器等。吸引了数万名专业观众，为全球制造业高层决策者交流合作提供了难得契机。

西凡仪器（展位号：41-16）携旗舰款镀层测厚仪PURERAY Supreme和多功能荧光光谱仪PURERAY Pro重磅亮相，涵盖金属材料分析、多层镀层厚度和成分检测、RoHS环保检测等多个应用领域。

这两台光谱仪检测精准度高，轻松分析微小结构区域，性能出色，吸引了多来自电子工业、电镀加工、精密制造等行业的专业观众驻足参观并深入交流。西凡团队现场演示和技术答疑得到了众多访客的称赞与认可，这也充分彰显了西凡在工业材料分析领域的技术实力。

此次展会不仅进一步提升了西凡仪器在国际市场的品牌影响力，也为公司拓展日本及亚洲制造业客户资源、寻找合作伙伴、推动全球布局奠定了坚实基础。西凡仪器一直坚持核心技术自主创新，不断加大研发投入力度，产品性能与服务不断升级。现已成为海内外知名XRF品牌，拥有成熟的全球销售网络，产品远销100多个国家及地区。

参展仪器

PURERAY Supreme镀层测厚仪，采用Smart FP算法可精准检测未知“盲样”，同时分析镀层厚度及成分，支持10层镀层检测。配备多准直器和XY微动平台，轻松检测小尺寸电子元件。适用于多种检测场景，精准分析镀层厚度及成分、液体离子浓度和RoHS有害物质。

PURERAY Pro多功能光谱仪，一机多用，满足多种检测需求，精准分析贵金属成分、宝石成分、RoHS有害物质、首饰镀层厚度及成分、矿石粉末和离子浓度。