XF-P1和XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的两款高性能镀层测厚仪，内置工控电脑，运行Smart FP算法，无需标样，可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器，电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

XF-P3产品外观图

XF-P3检测6层标样统计界面图