西凡贵金属检测仪XF-S8,基于AMPTEK独特的定制的超强Fast SDD探测器技术以及西凡创新的Smart FP算法,可以轻松检测99999金样品。
XF-S8的X射线光路在检测99999金的杂质重元素的效果显著得到提升,配合我们更新的Smart FP算法技术,10~100ppm的银元素的检测因此成为现实。Smart FP算法模型基于XRF原理建立物理模型,对全谱拟合计算,相比较传统的经验算法,无需依赖标样亦可直接测试,有标样的前提下测试更准确。
黄金检测仪
镀层测厚仪
RoHS检测仪