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XF-P1镀层测厚仪

XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

XF-P1产品手册点击下载 >>

测试范围

钾(No.19)~铀(No.92)

检测精度

相对误差±2.5%(1微米厚度)

操作简单

一键测试,自动报表

多层分析

可支持至多四层检测

智能算法

同时分析镀层厚度和成分

售后保障

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