XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
钾(No.19)~铀(No.92)
相对误差≤2.5%(镀层);≤2.5%(成分)
一键测试,自动报表
可支持至多四层检测
同时分析镀层厚度和成分
在线远程/上门服务
黄金检测仪
镀层测厚仪
RoHS检测仪