市面上当前非常流行的“金包银”等镀厚金首饰，其基材多为铜或银，在表面电镀一层厚金。但由于镀层较厚，若用普通XRF仪器分析，容易被误判为高含量K金。为解决这一问题，西凡新一代的A5S系列产品（A5Slite, A5S, A5SMC, S5, S5MC, S6, S8lite, S8等），真FP算法配合创新的垂直光路，能自动识别镀金样品结构，可有效区分镀金样品与合金，确保客户回收过程的准确性与安全性。

以下以2024年推出的西凡A5S仪器为例，分别测试典型的镀金吊坠与K金戒指样品。

（1）吊坠分析

外观示意图：

我们以常规的合金曲线AuAgX来测试，结果如下图：

上图结果显示测试结果是55.5%的K金，如果没注意到"警告：这可能是镀金的！"提示，那么大概率客户要受损失。

当我们重新建立一个曲线模板，以银为基材而金为镀层去检测，能正常检测到镀金厚度为4.47μm，如下图所示：

（2）戒指分析

外观示意图：

采用合金模式测试该K金戒指时，黄金含量为 75.08%，由于该K金样品为正常合金，软件不会触发镀金提醒，结果如下图：

需要特别说明的是，当测试的确为真实合金样品（如K金、18K金等）时，系统不会触发镀金提醒，只有在检测到样品为镀层样品时，软件才显示提醒。

总结：

“警告：这可能是镀金的！”这个提示，源于A5S的创新光路和真FP算法能识别是“金包银”还是“真K金”。

在这里我们浅谈下真FP算法的特点，虽然有很多友商宣传其也为FP算法。但FP其区别于传统的经验算法和系数法等算法的更大差异，在于XRF物理模型的数学描述是否存在。经验算法不在乎XRF仪器的参数，其基于的是标准样品的线性回归方程；而建模代表着已知样品结构和成分，设计基于X射线的激发模型、探测器的响应模型、样品的结构模型、元素间以及各层之间的互相激发模型等等来模拟计算出谱形，这是其主要的差异。

镀层和合金因为元素间的二次荧光激发存在差异，导致两者谱形存在差异，因此当认定是一个合金样品的时候模拟计算的谱形和真实测试谱形存在差异，同时在创新的垂直光路的激发下，帮助更好的识别差异。这就是我们说创新的A5S能够识别到“金包银”和“金包铜”是真合金还是镀层。

探测器是XRF仪器的心脏，而算法是仪器的灵魂，好看的皮囊千篇一律，健壮的身体随处可见，但有趣的灵魂万里挑一。

西凡A5S系列助力客户慧眼识别“金包银”！